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TopMap Micro.View®

Mide topografías complejas a una resolución de nm, intervalo de medición Z extendido de 100 mm y tecnología de escaneo continuo

Descripción

Perfilador de superficies ópticas de sobremesa

TopMap Micro.View es un perfilador óptico compacto y fácil de usar.

Combine un rendimiento excepcional y asequibilidad con esta potente solución de metrología. Con un intervalo de medición Z extendido de 100 mm y la tecnología de escaneo continuo CST, Micro.View mide topografías complejas a una resolución de nm. Esta conveniente configuración de sobremesa cuenta con electrónica integrada, con el buscador de enfoque inteligente que simplifica y acelera el procedimiento de medición.

  • Mide el acabado de la superficie en una configuración compacta
  • Medición sin contacto de topografía, rugosidad y textura 3D
  • Intervalo de medición z de 100 mm con tecnología de escaneo continuo CST
  • Excelente resolución lateral
  • Elija entre los objetivos específicos de la aplicación

Huella pequeña con capacidad ampliada

Benefíciese de la tecnología de compensación ambiental ECT opcional, que asegura resultados de medición confiables y exactos incluso en entornos de producción ruidosos y desafiantes.

Micro.View es el instrumento de control de calidad rentable para inspeccionar superficies diseñadas con exactitud tanto en la fabricación como en la investigación.

Hoja de Datos 

Folleto 

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