Descripción
Perfilador de superficies ópticas de sobremesa
TopMap Micro.View es un perfilador óptico compacto y fácil de usar.
Combine un rendimiento excepcional y asequibilidad con esta potente solución de metrología. Con un intervalo de medición Z extendido de 100 mm y la tecnología de escaneo continuo CST, Micro.View mide topografías complejas a una resolución de nm. Esta conveniente configuración de sobremesa cuenta con electrónica integrada, con el buscador de enfoque inteligente que simplifica y acelera el procedimiento de medición.
- Mide el acabado de la superficie en una configuración compacta
- Medición sin contacto de topografía, rugosidad y textura 3D
- Intervalo de medición z de 100 mm con tecnología de escaneo continuo CST
- Excelente resolución lateral
- Elija entre los objetivos específicos de la aplicación
Huella pequeña con capacidad ampliada
Benefíciese de la tecnología de compensación ambiental ECT opcional, que asegura resultados de medición confiables y exactos incluso en entornos de producción ruidosos y desafiantes.
Micro.View es el instrumento de control de calidad rentable para inspeccionar superficies diseñadas con exactitud tanto en la fabricación como en la investigación.
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